陶瓷芯片外观缺陷检测方案

在现代工业中，陶瓷件因其优异的耐磨性、耐高温性和化学稳定性，广泛应用于航空航天、汽车制造、电子产品、医疗器械等领域。陶瓷件在生产过程中容易出现裂纹、缺损、表面瑕疵等问题，这些微小的缺陷可能会严重影响其使用寿命和性能。因此，对陶瓷件进行精密的质量检测，成为了各大制造企业提升产品合格率的关键步骤。

人工检测速度较慢，尤其是当生产线上的产品数量庞大时，检测压力倍增，极易导致漏检和误检现象。肉眼检测难以发现一些微小的表面瑕疵或隐蔽的缺陷，尤其是在批量生产中，细微的偏差可能导致整批产品的报废。

基于计算机视觉和人工智能的陶瓷件视觉检测设备应运而生。该设备通过高速摄像机、光学传感器、图像处理算法等技术手段，实现了对陶瓷件的全自动化检测，不仅大幅提升了检测精度和速度，还显著降低了人力成本。

检测内容：芯片侧面缺损，银面不良，面缺损，侧面留边

解决方案

SIPOTEK视觉检测软件1套，SIPOTEK定制工业电脑1套，PHILIPS  22”液晶显示器1台，定制黑白工业相机（160W） 6套 ，SIPOTEK定制相机调节模组6套，光学工业镜头6套、6个35mm焦距镜头，定制光学光源6套、6个环形无影115-W，SIPOTEK定制控制系统1套，松下伺服电机1套，SIPOTEK定制减速机1套 等。

陶瓷件芯片检测效果

OK良品图

银面不良（NG)

面破损（NG）

OK良品图

侧面流边

侧面破损

OK良品图 

孔洞不良

缺陷不良

黄斑不良

青斑不良