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自动化光学检测设备之微电子外观缺陷检测

发布时间:2024-05-18点击数:


 微电子是指微型电子学,是研究微型电子元器件、电子电路和系统的一门学科。微电子领域涉及到微型芯片、集成电路、半导体器件等微型电子元件的设计、制造和应用。微电子技术的发展推动了电子产品的小型化、轻量化和高性能化,广泛应用于计算机、通讯、消费电子、医疗电子等领域。


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在微电子生产过程中常出现异物、裂纹等缺陷,单是使用人工检测的方式已经不能保证生产量和精确度。2024年,很多电子制造业已经开始结合自动化光学检测设备进行微电子外观缺陷检测。

自动光学检测也称为AOI(Automated Optical Inspection缩写),是基于光学原理来对微电子生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。主要通过相机对微电子进行扫描并获取到区域的图像,通过视觉处理技术自动检测微电子上各种外观缺陷。AOI自动光学检测设备可以大幅提高产品检测效率,确保最终产品的质量符合标准,已经成为电子制造过程中不可或缺的一部分。

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光学自动化检测案例

检测需求

精度要求:瑕疵检测精度99%以上。

速度要求:每分钟检测数量不低于200件。

工艺要求:在原有生产线上加装视觉检测设备。

检测内容

检测产品的印字面沾异物、沾银、扩散、印银方向正反、裂纹、崩缺、印银、电镀不良、黑边等外观缺陷。

检测效果

电镀不良

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印银不良

  

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崩缺

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中柱卡异物  


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缺银

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沾银

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印银方向错误  

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裂纹

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印字面有异物

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